# Bipolar (BJT) Single Transistor, NPN, 15 V, 200 mA, 300 mW, SOT-23, Surface Mount

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**URL**: https://novapart.co/products/MMBT2369ALT1G/bipolar-bjt-single-transistor-npn-15-v-200-ma-300
**SKU**: MMBT2369ALT1G
**Manufacturer**: ONSEMI
**Category**: Semiconductors - Discretes || Transistors || Bipolar Transistors || Single Bipolar Junction Transistors - BJT
**Price**: €0.0470
**Stock**: 1000+
**Lead Time**: 2 days (indicative)

## Description

Transistor Polarity:NPN; Collector Emitter Voltage V(br)ceo:15V; Transition Frequency ft:-; Power Dissipation Pd:225mW; DC Collector Current:200mA; DC Current Gain hFE:40hFE; Transistor Case Style:SOT

## Specifications

| Parameter | Value |
|---|---|
| Msl | MSL 1 - Unlimited |
| Svhc | No SVHC (25-Jun-2025) |
| No. Of Pins | 3Pins |
| Product Range | - |
| Qualification | AEC-Q101 |
| Power Dissipation | 300mW |
| Transistor Mounting | Surface Mount |
| Transistor Polarity | NPN |
| Transition Frequency | - |
| Transistor Case Style | SOT-23 |
| Dc Current Gain Hfe Min | 40hFE |
| Operating Temperature Max | 150°C |
| Continuous Collector Current | 200mA |
| Collector Emitter Voltage Max | 15V |

## Datasheet

📄 [Download PDF](https://novapart.co/datasheet/farnell:1653624RL/)

Final Product/Process Change Notification Document # : FPCN22406XB Issue Date: 16 November 2018 

|**Title of Change:**|Qualification of ON Niigata, Japan as additional wafer source for ON Semiconductor switching diode and|
|---|---|
||transistor.|
|**Proposed first ship date:**|23 February 2019|
|**Contact information:**|Contact your local ON Semiconductor Sales Office or <Hiroshi.Koizumi@onsemi.com>|
|**Samples:**|Contact your local ON Semiconductor Sales Office or<PCN.samples@onsemi.com>|
||Sample requests are to be submitted no later than 30 days from the date of first notification, Initial PCN or|
||Final PCN, for this change.|
|**Additional Reliability Data:**|Contact your local ON Semiconductor Sales Office or <Dustin.Tenney@onsemi.com>|
|**Type of notification:**|This is a Final Product/Process Change Notification (FPCN) sent to customers.  FPCNs are issued 90 days prior|
||to implementation of the change.|
||ON Semiconductor will consider this change accepted, unless an inquiry is made in writing within 30 days of|
||delivery of this notice.  To do so, contact<PCN.Support@onsemi.com>|
|**Change Part Identification:**|Affected products will be identified with date code.|
|**Change Category:**|Wafer Fab Change<br>Assembly Change<br>Test Change<br>Other|
||________________|
|**Change Sub-Category(s):**||
|Manufacturing Site Addition<br>Material Change<br>Datasheet/Product Doc change<br>~~v~~<br>~~r~~<br>~~r~~||
|Manufacturing Site Transfer<br>Product specific change<br>Shipping/Packaging/Marking<br>~~r~~<br>7<br>r||
|Manufacturing Process Change<br>Other:<br>T<br>[~||
||_________________________________|
|**Sites Affected:**|ON Semiconductor Sites:<br>ON ISMF, Malaysia<br>ON Niigata, Japan<br>External Foundry/Subcon Sites:<br>None|



## **Description and Purpose:** 

ON Semiconductor is notifying customers of the qualification of ON Niigata, Japan as additional wafer source for ON Semiconductor switching diode and transistor. The affected products listed in this notification are currently sourced from ON Semiconductor ISMF fabrication facility in Seremban, Malaysia. 

Niigata Fab facility is an ON Semiconductor owned wafer fab that has been producing products for ON Semiconductor. Several existing technologies within ON Semiconductor’s product families are currently sourced from Niigata Fab. ON Semiconductor Niigata Wafer Fab is an internal factory that is TS16949, ISO-9001 and ISO-14000 certified. Qualification tests are designed to show that the reliability of the transferred devices will continue to meet or exceed ON Semiconductor standards 

||**Before Change Description**|**After Change Description**|
|---|---|---|
|Wafer fab|ON Semiconductor ISMF FAB, Malaysia|ON Semiconductor ISMF FAB, Malaysia<br>ON Semiconductor Niigata,Japan|



There is no product marking change as a result of this change. 

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TEM001793 Rev. A 

Final Product/Process Change Notification Document # : FPCN22406XB Issue Date: 16 November 2018 **Reliability Data Summary: QV DEVICE NAME : SMBT1469LT3G RMS: L46825 PACKAGE:  SOT23 Test Specification Condition Interval Results** HTRB JESD22-A108 Ta=150°C,  100% max rated V 2016 hrs 0/77 HTSL JESD22-A103 Ta=  150°C 1008 hrs 0/77 MIL-STD-750 Ta=+25°C, delta Tj=100°C IOL (M1037) 30000 cyc 0/77 On/off = 2 min AEC-Q101 TC JESD22-A104 Ta= -55°C to +150°C 1000 cyc 0/77 HAST JESD22-A110 130°C, 85% RH, 18.8psig, bias 192 hrs 0/77 uHAST JESD22-A118 130°C, 85% RH, 18.8psig, unbiased 96 hrs 0/77 PC J-STD-020  JESD-A113 MSL 1 @ 260 °C - RSH JESD22- B106 Ta = 265C, 10 sec - 0/30 **QV DEVICE NAME: MMBT2222ALT1G RMS: L46826 PACKAGE:  SOT23 Test Specification Condition Interval Results** HTRB JESD22-A108 Ta=150°C,  100% max rated V 1008 hrs 0/77 **Electrical Characteristic Summary:** Electrical characteristics are not impacted by this change. Characterization data is available upon request. **List of Affected Parts:** Product ID Qualification Vehicle BSV52LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2222ALT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2222ALT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2222LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2369ALT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2369LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2369LT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT3904LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT3904LT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT4124LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT4401LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT4401LT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G ~~a~~ TEM001793 Rev. A Page 2 of 2 

**Note** _: The Japanese version is for reference only. In case of any differences between the English and Japanese version, the English version shall control._ `注：日本語版は参照用です。英語版と日本語版の違いがある場合は、英語版が優先さ れます .` 

最終製品 / プロセス変更通知 文書番号：FPCN22406XB 発行日： 2018 年 11 月 16 日 

|変更件名：|オン・セミコンダクターのスイッチングダイオードおよびトランジスタのウェハー製造追加拠点としてオン新潟（日本）を認|オン・セミコンダクターのスイッチングダイオードおよびトランジスタのウェハー製造追加拠点としてオン新潟（日本）を認|
|---|---|---|
||定||
|初回出荷予定日：|2019年2月23日||
|連絡先情報：|現地のオン・セミコンダクター営業所または<Hiroshi.Koizumi@onsemi.com>にお問い合わせください。||
|サンプル：|現地のオン・セミコンダクター営業所または <PCN.samples@onsemi.com> にお問い合わせください。||
||サンプルは、この変更の初回通知、初回PCN、または最終PCNの日付から30日以内に要求してください。||
|その他の信頼性データ：|現地のオン・セミコンダクター営業所または<Dustin.Tenney@onsemi.com>にお問い合わせください。||
|通知種別：|これは、お客様宛の最終製品/プロセス変更通知（FPCN）です。FPCNは、変更実施の90日前に発行されま||
||す。||
||オン・セミコンダクターは、この通知の送付から30日以内に書面による問い合わせがない限り、この変更が承諾され||
||たものとみなします。 お問い合わせは、<PCN.Support@onsemi.com>にお願いします。||
|変更部品の識別：|影響を受ける製品は日付コードで識別します。||
|変更カテゴリ：|ウェハファブの変更<br>アセンブリの変更<br>試験の変更<br>その他||
||________________||
|変更サブカテゴリ：|||
|製造拠点の追加<br>製造拠点の移転<br>製造プロセスの変更<br>Iw<br>[~<br>rT|材料の変更<br>製品仕様の変更<br>データシート/製品資料の変更<br>出荷/パッケージング/表記<br>その他：<br>________________________________<br>r<br>ro<br>T<br>ro<br>~||
|影響を受ける拠点：|オン・セミコンダクター拠点：<br>オンISMF（マレーシア）<br>オン新潟（日本）<br>外部ファウンドリまたは下請け業者拠点：<br>なし||



## 説明および目的： 

オン・セミコンダクターは、スイッチングダイオードおよびトランジスタのウェハー製造追加拠点としてオン新潟（日本）を認定することをお客様に通知いたしま す。本通知により影響を受ける一覧製品は、現在セレンバン（マレーシア）のオン・セミコンダクター ISMF で製造されています。 

オン新潟 Fab は、当社製品の製造を行っている自社ウェハー製造施設です。オン・セミコンダクター製品ファミリでの既存技術のいくつかは新潟 Fab で製 造されています。オン・セミコンダクター新潟 Fab は自社工場で、TS16949、ISO-9001、および ISO-14000 の 認定を受けています。品質試験は移管され たデバイスの信頼性が引き続きオン・セミコンダクターの基準以上となっていることを検証できるように設計されています。 

||||変更前の表記|変更後の表記|
|---|---|---|---|---|
||ウェハ製造施設||オン・セミコンダクターISMF FAB（マレーシア）|オン・セミコンダクターISMF FAB（マレーシア）<br>オン・セミコンダクター新潟（日本）|
|今回の変更に伴う製品表示の変更はありません。|||||



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TEM001791 Rev. A 

最終製品 / プロセス変更通知 文書番号：FPCN22406XB 発行日： 2018 年 11 月 16 日 信頼性データの要約： **QV** 素子名 **: SMBT1469LT3G RMS: L46825** パッケージ **SOT23 Test Specification Condition Interval Results** HTRB JESD22-A108 Ta=150°C,  100% max rated V 2016 hrs 0/77 HTSL JESD22-A103 Ta=  150°C 1008 hrs 0/77 MIL-STD-750 Ta=+25°C, delta Tj=100°C IOL (M1037) 30000 cyc 0/77 On/off = 2 min AEC-Q101 TC JESD22-A104 Ta= -55°C to +150°C 1000 cyc 0/77 HAST JESD22-A110 130°C, 85% RH, 18.8psig, bias 192 hrs 0/77 uHAST JESD22-A118 130°C, 85% RH, 18.8psig, unbiased 96 hrs 0/77 PC J-STD-020  JESD-A113 MSL 1 @ 260 °C - RSH JESD22- B106 Ta = 265C, 10 sec - 0/30 **QV** 素子名 **: MMBT2222ALT1G RMS: L46826** パッケージ **:  SOT23 Test Specification Condition Interval Results** HTRB JESD22-A108 Ta=150°C,  100% max rated V 1008 hrs 0/77 電気的特性の要約： 電気的特性はこの変更の影響を受けません。要求に応じて特性データが入手可能です。 影響を受ける部品の一覧： 製品 **ID** 品質試験用ビークル BSV52LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2222ALT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2222ALT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2222LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2369ALT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2369LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT2369LT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT3904LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT3904LT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT4124LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT4401LT1G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G MMBT4401LT3G SMBT1469LT3G, MMBT2222ALT1G ~~—~~ TEM001791 Rev. A 2/2 ページ 



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